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AFM

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Copyright by Gary Larson: The Far Side

Eine Spitze wird über die Probe gefahren. Dabei wirken atomare Kräfte auf die Spitze und beeinflussen deren Verhalten (Schwingung oder Verbiegung). Diese Veränderungen werden aufgezeichnet und lassen eine Landkarte der atomaren Topographie der Probe entstehen. Anders als beim STM wird hier die elektrische Leitfähigkeit nicht vorausgesetzt.

 

Unterkapitel:

Aufbau
Messprinzip
Atomare Kräfte
Contact Mode
Tapping Mode
  STM                  Bauteile

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