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STM

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Copyright by Gary Larson: The Far Side

Eine Spitze, welche zur Probe unter Spannung steht, wird über die Probe gefahren. Dazu muss die Probe natürlich elektrisch leitfähig sein. Das Mikroskop misst sodann die Veränderungen der Spannung, welche u.a. durch Veränderungen in der Topographie der Probe verursacht werden. Schliesslich entsteht eine Karte von elektrostatischen Zuständen, beeinflusst durch die Topographie.

 

Unterkapitel:

Aufbau
Messprinzip
Tunnelstrom
Spitze
Zwei Methoden
  Die Mikroskope                  AFM

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